78紫 外可視 近 赤 外分 光 光 度 計走 査型 電子 顕 微 鏡試 料水平 型 多目的Ｘ線 回 折 装置（X R D） メーカー形式性能・特徴メーカー形式JSM-6510LA・タングステンフィラメント使用電子銃・加速電圧 0.5〜30kV・倍率 5〜300000倍性能・特徴・分解能メーカーRigaku形式性能・特徴Rietveld解析、粉末結晶構造解析が可能。日本分光 ㈱V-670測定範囲： 190-3200nm4,400円日本電子㈱ 高真空 3.0nm(加速電圧30kV) SEI 低真空 4.0nm(加速電圧30kV)、BEI6,270円Ultima IV主に、定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、※新型高速Ｘ線検出器（D/teX Ultra）を搭載。5,500円 使用料／時間（消費税込）使用料／時間（消費税込）使用料／時間（消費税込）■北九州高専設備のご紹介
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